|
|
晶圓級硅光測試系統 產品介紹 硅光芯片擁有集成電路技術超大規模、光子技術的超高速率和超低功耗的優勢, 在通信、數據中心、超級計算機、量子技術等領域應用前景廣泛。硅光測試測量技術方案基于成熟可靠的晶圓測試探針臺、高分辨率顯微成像系統、高精度低損耗光學測試組件、精密光纖定位組件、光纖定位控制器、光電轉換器和系統集成控制軟件等搭建的高效光電測試系統。
產品特點 Ø 完全國產自主知識產權，售后無憂 Ø 貨期快，比進口產品快2/3以上 Ø 雙邊共計18軸電動控制，納米級別精度 Ø 可定制，滿足各種不同測試需求 Ø 支持垂直耦合和端面耦合 Ø 支持單光纖耦合和陣列光纖耦合 Ø EasyLink集成軟件控制所有設備 Ø 系統搭建和準備流程簡化，節省培訓成本 晶圓級自動耦合跑片視頻 自動耦合系統指標 該系統配置壓電納米定位臺，結合EasyLink軟件，可實現X、Y、Z、XY、XZ、YZ、XYZ 多種運動算法，均可實現最大100μm 的精密運動。配置下視顯微鏡和側面顯微鏡，輕松完成光纖對準和高度確認。顯微鏡視野界面及耦合界面如下圖所示。
|
