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名稱：8寸手動探針臺
基本特征 • 可升級探卡,高溫，大功率，射頻等測試。 • 可選探針卡測試 • chuck 快速移動（氣浮移動Air-Bearing 技術） • 可選顯微鏡氣動升降功能 • platen 臺面快速升降 • platen 臺面微調升降并帶數顯升降高度顯示 • 快速裝片并可任意位置鎖定功能 • 可搭配常規顯微鏡或金相顯微鏡 名稱：8寸高低溫探針臺
基本特征 • 支持溫度范圍-60℃到300℃ • 高性能電磁屏蔽微腔兼容光電及低電流測試 • 多點Purge及流量精確控制設計防止測試結霜 • chuck 快速移動（氣浮Air-Bearing 技術） • 可選顯微鏡氣動升降功能 • platen 臺面快速升降 • 快速裝片并可任意位置鎖定功能 • 帶拍照、錄像、測量功能 名稱：6寸手動探針臺
型號：EMP-150 基本特征 • 兼容6寸晶圓及以下尺寸器件測試 • 滿足CV、IV、RF測試 • 四探針微小電阻及100fA微小電流測試 • 顯微鏡氣動升降功能 • platen 臺面快速接觸分離 • Air-Bearing Stage（氣浮移動技術） • 人體工程學設計，結構緊湊，穩定可靠 名稱：液氮高低溫自動探針臺
型號：EVP-LN-100 基本特征 • 顯微鏡度維度移動，允許不同尺寸器件便捷觀察 • 載物臺XYZ電動移動，實現高重復性測試 • 探針預接觸功能，保護敏感器件不易被扎壞 • 高性能Triax配置，實現fA級低漏電測試 • 寬變溫區間, 85K到500K • 高精度光纖耦合搭配，兼容光電測試 名稱：4寸手動探針臺
型號：EMP100 基本特征 • 兼容4寸晶圓及以下尺寸器件測試 • 滿足常規CV、IV測試 • 四探針微小電阻測試 • 漏電100fA以下微小電流測試 • 可升級高溫測試環境 • 人體工程學設計，結構緊湊，穩定可靠 名稱：PCB雙面測試探針臺
型號：EMP200-DS 基本特征 • 兼容PCB板級器件測試 • 支持光電雙面器件、直流雙面器件和RF雙面器件 • 高穩定性臺體、大范圍探針座移動平臺 • 易操作的PCB夾持器、高穩定性雙CCD成像系統組成 • 支持Theta調節的定位器基座，支持擴頻到110GHz
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